Analyse mit Tiefgang

Neu am Fachbereich Chemie: das Gerät für Tiefenprofilanalysen (Foto: FB Chemie/Philipps-Universität Marburg).

Am Fachbereich Chemie der Philipps-Universität Marburg gibt es seit diesem Monat eine Anlage, die es gestattet, chemische Analysen von grenzflächennahen Bereichen von Materialien durchzuführen. Die TOF-SIMS (time-of-flight secondary ion mass spectrometry) genannte Anlage wurde über einen Großgeräteantrag durch die Deutsche Forschungsgemeinschaft finanziert. Hauptantragsteller waren die Professoren Dr. Bernhard Roling und Dr. Karl-Michael Weitzel.

Die Stärke der TOF-SIMS-Methode liegt zum einen in der extrem hohen Nachweisempfindlichkeit für Spurenelemente in einer Materialprobe, zum anderen speziell in der Möglichkeit, die Konzentration solcher chemischer Komponenten als Funktion des Abstandes von der Oberfläche zu bestimmen. Dies konstituiert eine so genannte Tiefenprofilanalyse; die Tiefenauflösung liegt im Bereich von einem bis zwei Nanometern. Derartige Tiefenprofilanalysen sind vor allem im Bereich der Physikalischen Chemie und der Materialwissenschaften von großer Bedeutung, jedoch auch in diversen anderen Teilgebieten der Chemie.

„Ein Beispiel einer geplanten Anwendung liegt in der Tiefenprofilanalyse elektrisch vorgepolter ionenleitender Gläser, ein anderes in der Tiefenprofilanalyse derartiger Gläser nach Ionenimplantation“, erklärt Weitzel.

Inbetriebnahme des neuen Geräts: Prof. Dr. Karl-Michael Weitzel und Prof. Dr. Bernhard Roling übergeben die erste Probe an den Leiter der zentralen Massenspektrometrieabteilung des Fachbereichs Chemie, Dr. Uwe Linne (v.l.n.r.; Foto: FB Chemie/Philipps-Universität Marburg).

Weitere Informationen:

AG Weitzel im Internet: www.uni-marburg.de/fb15/ag-weitzel

Kontakt

Prof. Dr. Karl-Michael Weitzel, Prof. Dr. Bernhard Roling
Fachbereich Chemie
Tel.: 06421 28-22360/61, 28-22310
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