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SUMMARY:Untersuchung der Dynamik des Kristallwachstums von Halbleiter-Nano
 drähten mittels in-situ Rastertransmissionselektronenmikroskopie
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  Volz, Zweitgutachter Dr. Moritz Linkmann";ROLE=REQ-PARTICIPANT:Referent: 
 David Peter Krug, Erstgutachterin Prof. Dr. Kerstin Volz, Zweitgutachter D
 r. Moritz Linkmann
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 nanodraehten-mittels-in-situ-rastertransmissionselektronenmikroskopie\nPr
 äsentation der Masterarbeit von Herrn David Peter Krug
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 Nr. 02D36)
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