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Transmissionselektronenmikroskop JEOL JEM-3010

Foto: Thomas Demuth

Spezifikationen

  • Beschleunigungsspannung: 300 kV
  • TEM Modus
  • Scanning Precession Electron Diffraction Modus (NanoMEGAS)

Detektoren und Kameras

  • TVIPS TemCam  XF416 (full frame: 4k x 4k pixels, 48 fps)

TEM Halter

  • Einfach-Kipp-Analytikhalter
  • Doppel-Kipp-Analytikhalter
  • Tomographie-Halter
  • Doppel-Kipp + Inertgas-Transfer + Cryo-Halter (Mel-Build)