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Raster-Transmissionselektronenmikroskop JEOL JEM-2200FS

Foto: Thomas Demuth

Spezifikationen

  • Beschleunigungsspannung: 80 kV & 200 kV
  • Cs korrigierter TEM Modus (bis 3. Ordnung), Auflösung < 1.5 Å
  • Cs korrigierter STEM Modus (bis 3. Ordnung), Auflösung < 1 Å
  • Scanning Precession Electron Diffraction Modus (NanoMEGAS)
  • Nanobeam Diffraction Modus
  • Omega-Energiefilter: EELS (Auflösung 0,7 eV), EFTEM

Detektoren und Kameras

  • BF, ADF Detektoren
  • EDX Detektor Ultim Max TEM (fensterlos, 80 mm^2 Kristallfläche, Auflösung ≤ 127 eV @ MnKα)
  • pnCCD 4D (S)TEM Kamera (direct electron detector: full frame: 264x264 pixels, 1000 fps)
  • TVIPS TemCam  XF416 (full frame: 4k x 4k pixels, 48 fps)

TEM Halter

  • Einfach-Kipp-Analytikhalter
  • Doppel-Kipp-Analytikhalter
  • Tomographie-Halter
  • Doppel-Kipp + Inertgas-Transfer + Cryo-Halter (Mel-Build) 
  • In-Situ Heiz- und Spannungs-Halter (Protochips Fusion)
  • In-Situ Heizen-in-Gasatmosphäre-Halter (Protochips Atmosphere)